Impaktované časopisy          Konference          Celkem

Podklady pro hodnocení kateder na základě článků v impaktovaných časopisech ohodnocených podle pozice časopisu v oborovém žebříčku dle JCR a konferenčních příspěvků ohodnocených dle interních pravidel. Jde o výsledky vykázané za FI nebo s deklarovaným podílem FI (konkrétní výše podílu není nijak zohledněna).

Hodnoty výsledků dělím rovným dílem mezi domácí autory s vazbou k jedné z kateder. Základem pro rozřazení autorů ke katedrám je seznam zaměstnanců kateder. Doktorandi jsou řazeni na katedru svého školitele, ze zbylých domácích autorů jsou ti, kteří mají spoluautory pouze z jedné katedry, zařazeni na tuto katedru, z ostatních jsou ti s významnějším přínosem zařazeni ručně (např. magisterští studenti dle vedoucího DP), podíl těch s marginálním přínosem je rozdělen mezi jejich spoluautory.

RNDr. Lukáš Daubner (IS), katedra: KPSK, zdroj vazby: školitel Pitner

Články ve sbornících dle IS MU 2017–2021 (celkem A*: 0.2, A: 0.25, C: 1.5) Popis rankingu viz zde.
rankroktitlezapočítaníostatnínakladatelsborník
A*
ICSE
2019Mistakes in UML Diagrams: Analysis of Student Projects in a Software Engineering Course (DOI)Chren, Bühnová, Macák, Daubner, RossiIEEE PressProceedings of the 41st International Conference on Software Engineering: Software Engineering Education and Training
A
SAC
2020Verification of Forensic Readiness in Software Development: A Roadmap (DOI)Daubner, Macák, Bühnová, PitnerACMProceedings of the 35th Annual ACM Symposium on Applied Computing
C
ARES
2021Risk-Oriented Design Approach For Forensic-Ready Software Systems (DOI)DaubnerMatulevičiusACMThe 16th International Conference on Availability, Reliability and Security (ARES 2021)
C
ICSE
2020Simulation Games Platform for Unintentional Perpetrator Attack Vector Identification (DOI)Macák, Kružíková, Daubner, BühnováACMICSEW'20: Proceedings of the IEEE/ACM 42nd International Conference on Software Engineering Workshops
C
Big Data
2020Towards verifiable evidence generation in forensic-ready systems (DOI)Daubner, Macák, Bühnová, PitnerIEEE2020 IEEE International Conference on Big Data (Big Data)